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CX-230 CX-430磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片屬于美標(biāo)ASME標(biāo)準(zhǔn)試片,試片用于磁粉探傷時(shí)對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件檢驗(yàn)時(shí),可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢驗(yàn)探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能,在磁粉探傷過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需要的電流峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量,是磁粉探傷的調(diào)試工具。
M1型磁粉靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量。
磁粉探傷靈敏度試片A1、C型、D型、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液的綜合性能,顯示被檢 工件表面具有足夠的有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。
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