ASME標(biāo)準(zhǔn)試片CX-230 CX-430磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片

CX-230 CX-430磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片屬于美標(biāo)ASME標(biāo)準(zhǔn)試片，試片用于磁粉探傷時(shí)對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工件檢驗(yàn)時(shí)，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢驗(yàn)探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能，在磁粉探傷過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需要的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量,是磁粉探傷的調(diào)試工具。

ASME標(biāo)準(zhǔn)磁粉試片

CX4-230 靈敏度試片

CX4-430 靈敏度試片

CX-230   靈敏度試片

CX-430   靈敏度試片

使用方法：

選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上（膠帶紙貼于試片兩邊緣，不要影響試片背面的刻槽部位）。

進(jìn)行外加懸場法，對工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，既是磁化電流）。

上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。

注意事項(xiàng)：

1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，在用膠帶紙緊密地貼在工件上。

2. 試片用后請涂防銹油。

3. 試片有褶皺不平或破裂，會(huì)影響探傷靈敏度，不宜繼續(xù)使用。